제품의 특징

1. 검사 대상물 전체에 빛을 고르게 조사하여 균일하고 부드러운 이미지를 획득할 수 있습니다.
2. 넓은 범위를 조사할 때에 유리합니다.

사용 예

· 반도체 웨이퍼의 외관검사
· 각종 Label 검사
· 검사물체 상부 및 내부 이물검사
· PCB의 부품 위치 및 문자 인쇄 상태 측정